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日本千野CHINO 光学干涉膜厚仪IRMS8599S
IRMS8599S 将光投射到待测薄膜上，并根据来自正面的反射光和来自背面的反射光之间的干涉测量薄膜厚度。利用反射光谱中出现的波（干涉波）的数量随着膜厚的增加而增加的原理来测量膜厚。无需校准曲线，可进行高精度测量。
配备RS-485通讯/模拟输出功能
FFT 分析和 CF（曲线拟合）分析可以通过连续光谱进行。
多可同时测量 4 层
工作温度0～50℃，IP65（防尘防滴结构）
型号列表
| 姓名 | 格式 |
|---|---|
| 光学干涉膜厚仪 | IRMS8599S |
* 光纤、电缆和附件单独出售。
规格
| 测量方法 | 可见近红外连续光谱 |
|---|---|
| 测量范围 | 20nm-100μm |
| 测量波长范围 | 0.4-1.0微米 |
| 测量距离/直径 | 10-80mm / φ20mm（平行光镜筒） 18mm / φ2mm（会聚光镜筒） 80mm / φ5mm（会聚光镜筒） |
| 测量间隔 | 10-10000ms |
| 光源 | 钨丝灯 |
| 纤维 | 双支束纤维 |
| 通讯接口 | RS-485 |
| 模拟输出信号 | 4～20mA DC（负载电阻500Ω以下） |
| 电源 | 24V 直流 |
| 能量消耗 | 高达 150VA |
| 大量的 | 3.5公斤 |
| 保护结构 | 防尘防溅结构（IP65） |